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LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測(cè)量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當(dāng)一束探測(cè)光經(jīng)過(guò)“熱透鏡”效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過(guò)PSD位移傳感器測(cè)量其位置偏移量。

PCI共光路干涉弱吸收儀測(cè)量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測(cè)樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應(yīng)，當(dāng)一束Probe beam(探測(cè)光)經(jīng)過(guò)熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時(shí)，探測(cè)光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號(hào)。探測(cè)器通過(guò)探測(cè)其相位畸變情況并由鎖相放大器信號(hào)處理。