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gentec-eo激光功率計和能量計在這個領域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO功率計的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠到醫(yī)院和實驗室提供激光功率和能量測量...

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在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時，在后續(xù)...

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加拿大Gentec-EO是激光功率計能量計供應商。UP -50W系列：50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2。$n主要特點：$n1.模塊化概念$n增加您探頭的功率能...

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Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿足您的脈沖能量測量需求。Gentec-EO激光能量計從精益和便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...

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加拿大Gentec-EO 推出激光功率計能量計表頭，為擁有完整的激光功率測量系統(tǒng)，您將需要一款采集與讀出設備搭配您的功率探測器。我們提供不同功能的設備以滿足需求。無論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...

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Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PE...

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針對高反射率（R99.7%）的光學樣品，德國 IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）CRD高反射率測量儀, 它通過對指數(shù)型腔內(nèi)衰...

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美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量大面積光學材料，如用于LCD...

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QptLuxSD是一款創(chuàng)新性的光學表面瑕疵檢測，具備高重復性和準確性，系統(tǒng)根據(jù)設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告，與光學行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強主觀性的人工檢驗以及其他手動檢驗設備相比，提供光學...

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